Scanning Electron Microscopy

číslo produktu:155830

rezervuj

Scanning Electron Microscopy

Reimer

Rok vydania: 1998

Vydavateľ: Springer

Kniha je momentálne nedostupná.

V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.

O knihe:

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Zaradenie do kategórii:

Podrobnosti o titule (výrobné údaje):

Vydavateľstvo: Springer

Rok vydania: 1998

Vydanie: 2nd comple

ISBN: 978-3-540-63976-3

(9783540639763)

Väzba: tvrdá