Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

číslo produktu:108710

rezervuj

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

Bhattacharya

Rok vydania: 1990

Vydavateľ: Springer

Kniha je momentálne nedostupná.

V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.

Podrobnosti o titule (výrobné údaje):

Vydavateľstvo: Springer

Rok vydania: 1990

ISBN: 978-0-7923-9058-9

(9780792390589)

Väzba: tvrdá