číslo produktu:138964
rezervujFundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-Based Devices
Rok vydania: 1998
Vydavateľ: Springer
Kniha je momentálne nedostupná.
V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.
O knihe:
An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
Zaradenie do kategórii:
Podrobnosti o titule (výrobné údaje):
Väzba: tvrdá