číslo produktu:125875
rezervujFrontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Rok vydania: 2007
Vydavateľ: Springer
Kniha je momentálne nedostupná.
V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.
O knihe:
Nie je dostupný popis o knihe.
Zaradenie do kategórii:
Podrobnosti o titule (výrobné údaje):
Väzba: tvrdá