Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

číslo produktu:138330

rezervuj

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Cohen

Rok vydania: 1997

Vydavateľ: Springer

Kniha je momentálne nedostupná.

V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.

Podrobnosti o titule (výrobné údaje):

Vydavateľstvo: Springer

Rok vydania: 1997

ISBN: 978-0-306-45596-4

(9780306455964)

Väzba: tvrdá